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【一文了解硬盤(pán)12大性能指標(biāo) 硬盤(pán)性能指標(biāo)有哪些】 目前進(jìn)行硬盤(pán)檢測(cè)主要通過(guò)兩種手段 , 一種是通過(guò)每個(gè)扇區(qū)(Sector)進(jìn)行逐一測(cè)試 , 找出損壞的扇區(qū);另外一種是通過(guò)S.M.A.R.T信息來(lái)監(jiān)控硬盤(pán)狀況 。通過(guò)硬盤(pán)檢測(cè)有助于我們判斷一個(gè)硬盤(pán)的綜合性能 。
硬盤(pán)的綜合性能是由很多指標(biāo)共同決定的 , 比較重要的有以下指標(biāo) 。
1、容量
硬盤(pán)的容量大小是衡量一塊硬盤(pán)最重要的技術(shù)指標(biāo) , 是我們購(gòu)買(mǎi)時(shí)最為關(guān)心的參數(shù) 。硬盤(pán)的容量是由盤(pán)面數(shù)(磁頭數(shù))、柱面數(shù)和扇區(qū)數(shù)所決定的 。硬盤(pán)的單碟容量對(duì)硬盤(pán)的性能有一定的影響 , 單碟容量越大 , 硬盤(pán)的密度就越高 , 磁頭在相同時(shí)間內(nèi)可以讀取到的信息就越多 。因此 , 在硬盤(pán)總?cè)萘肯嗤那闆r下 , 要優(yōu)先選購(gòu)碟片少的硬盤(pán) 。
2、平均尋道時(shí)間
平均尋道時(shí)間 , 即average seek time , 指硬盤(pán)磁頭移動(dòng)到數(shù)據(jù)所在磁道時(shí)所用的時(shí)間 , 單位為毫秒(ms) 。尋道時(shí)間由硬盤(pán)尋道電機(jī)速度決定 , 這個(gè)時(shí)間越短越好 。
3、平均潛伏期
平均潛伏期 , 即average latency , 指當(dāng)磁頭移動(dòng)到數(shù)據(jù)所在的磁道后 , 等待所要的數(shù)據(jù)塊繼續(xù)轉(zhuǎn)動(dòng)(半圈或多些、少些)到磁頭下的時(shí)間 , .單位為毫秒(ms) 。平均潛伏期當(dāng)然也是越短越好了 , 潛伏期短代表硬盤(pán)讀取數(shù)據(jù)的等待時(shí)間短 , 這就等于具有更高的硬盤(pán)數(shù)據(jù)傳輸速率 。
4、道至道時(shí)間
道至道時(shí)間 , 即single track seek,指磁頭從一磁道轉(zhuǎn)移至下一磁道的時(shí)間 , 單位為毫秒(ms) , 也是越短越好 。
5、轉(zhuǎn)速
轉(zhuǎn)速是指驅(qū)動(dòng)硬盤(pán)盤(pán)片旋轉(zhuǎn)的主軸電機(jī)的旋轉(zhuǎn)速度 , 目前硬盤(pán)常見(jiàn)的轉(zhuǎn)速為7200rpm (每分鐘旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)數(shù)) 。硬盤(pán)轉(zhuǎn)速對(duì)硬盤(pán)的數(shù)據(jù)傳輸率有直接的影響 , 轉(zhuǎn)速是硬盤(pán)內(nèi)部傳輸率的決定性因素之一 , 也是區(qū)別硬盤(pán)檔次的重要標(biāo)志 。從理論上說(shuō) , 轉(zhuǎn)速越快越好 , 因?yàn)檩^高的轉(zhuǎn)速可縮短硬盤(pán)的平均尋道時(shí)間和實(shí)際讀/寫(xiě)時(shí)間 , 從而可以提高在硬盤(pán)上的讀/寫(xiě)速度 。但任何事物都有兩面性 , 在轉(zhuǎn)速提高的同時(shí) , 硬盤(pán)的發(fā)熱量也會(huì)增加 , 它的穩(wěn)定性就會(huì)有一定程度的降低 。
6、全程訪問(wèn)時(shí)間
全程訪問(wèn)時(shí)間 , 即max full seek , 指磁頭開(kāi)始移動(dòng)直到最后找到所需要的數(shù)據(jù)塊所用的全部時(shí)間 , 單位為毫秒(ms ) 。
7、平均訪問(wèn)時(shí)間
平均訪問(wèn)時(shí)間 , 即average access , 指磁頭找到指定數(shù)據(jù)的平均時(shí)間 , 單位為毫秒(ms) 。通常是平均尋道時(shí)間和平均潛伏時(shí)間之和 。
8、最大內(nèi)部數(shù)據(jù)傳輸速率
最大內(nèi)部數(shù)據(jù)傳輸速率 , 即internal data transfer rate , 也叫持續(xù)數(shù)據(jù)傳輸速率 , 一單位為Mb/s 。它指磁頭至硬盤(pán)緩存間的最大數(shù)據(jù)傳輸速率 , 一般取決于硬盤(pán)的盤(pán)片轉(zhuǎn)速和盤(pán)片數(shù)據(jù)線密度(指同一磁道上的數(shù)據(jù)間隔度) 。
9、外部數(shù)據(jù)傳輸速率
外部數(shù)據(jù)傳輸速率 , 即external data transfer rate , 通稱(chēng)突發(fā)數(shù)據(jù)傳輸速率 , 指從硬盤(pán)緩沖區(qū)讀取數(shù)據(jù)的速率 , 單位為MB/S 。
10、緩存大小
緩存英文名為Cache , 單位MB , 是硬盤(pán)內(nèi)部的高速存儲(chǔ)器 。數(shù)據(jù)緩存大的硬盤(pán)在存取零散文件時(shí)具有很大的優(yōu)勢(shì) 。緩存是硬盤(pán)與外部總線交換數(shù)據(jù)的場(chǎng)所 。簡(jiǎn)單地說(shuō) , 硬盤(pán)上的緩存容量是越大越好 , 大容量的緩存對(duì)提高硬盤(pán)速度很有好處 。硬盤(pán)的緩存主要起三種作用 。
一是預(yù)讀取、二是對(duì)寫(xiě)入動(dòng)作進(jìn)行緩存、三是臨時(shí)存儲(chǔ)最近訪問(wèn)過(guò)的數(shù)據(jù) 。有時(shí) , 某些數(shù)據(jù)會(huì)是經(jīng)常需要訪問(wèn)的 , 硬盤(pán)內(nèi)部的緩存會(huì)將讀取比較頻繁的一些數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在緩存中 , 再次讀取時(shí)就可以直接從緩存中傳輸 。
11、硬盤(pán)表面溫度
硬盤(pán)表面溫度是指硬盤(pán)工作時(shí)產(chǎn)生的熱量使硬盤(pán)密封殼溫度上升的情況 。這項(xiàng)指標(biāo)廠家并不提供 , 一般只能在各種媒體的測(cè)試數(shù)據(jù)中看到 。硬盤(pán)工作時(shí)產(chǎn)生的溫度過(guò)高將影響薄膜式磁頭(包括GMR磁頭)的數(shù)據(jù)讀取靈敏度 , 因此硬盤(pán)工作表面溫度較低的硬盤(pán)有更好的數(shù)據(jù)讀、寫(xiě)穩(wěn)定性 。
12、MTBF
硬件廠商喜歡用MTBF來(lái)說(shuō)明硬盤(pán)的使用壽命 , 即Mean Time Between Failures , 平均故障間隔時(shí)間 。指硬盤(pán)從開(kāi)始運(yùn)行到出現(xiàn)故障的最長(zhǎng)時(shí)間 , 單位是小時(shí)(h) , 時(shí)間越長(zhǎng)說(shuō)明硬盤(pán)的性能越好 。
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